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四、裂紋的無(wú)損探傷法

裂紋是機(jī)器零部件最嚴(yán)重的缺陷。裂紋可能在原材料生產(chǎn)、零部件加工以及設(shè)備使用等各個(gè)階段產(chǎn)生。

對(duì)設(shè)備零部件裂紋的檢查，主要采用無(wú)損探測(cè)法。利用無(wú)損探測(cè)技術(shù)不僅能發(fā)現(xiàn)機(jī)件的裂紋，以及腐蝕、機(jī)械性能超差等變化，而且還可以根據(jù)機(jī)件損傷的種類、形狀、大小、產(chǎn)生部位、應(yīng)力水平、應(yīng)力方向等信息預(yù)測(cè)損傷或缺陷發(fā)展的趨勢(shì)，以便及時(shí)采取措施，排除隱患。

有多種無(wú)損探測(cè)法供選用，如目視——光學(xué)檢測(cè)法、滲透探測(cè)法、磁粉探測(cè)法、射線探測(cè)法、超聲波探測(cè)法、聲發(fā)射探測(cè)法、渦流探測(cè)法等。

(一)目視—光學(xué)檢測(cè)法

對(duì)于封閉結(jié)構(gòu)內(nèi)部不能直接觀察的零件，主要使用工業(yè)內(nèi)窺鏡進(jìn)行目視——光學(xué)檢測(cè)。

(二)滲透探測(cè)法

使著色滲透液或熒光滲透液滲入機(jī)件表面開口的裂紋內(nèi)，然后清除表面的殘液，用吸附劑吸出裂紋內(nèi)的滲透液，從而顯示出缺陷圖像的一種檢驗(yàn)方法。

(三)磁粉探測(cè)法

根據(jù)探測(cè)漏磁場(chǎng)方式的不同，可將磁性探測(cè)法分為磁粉探測(cè)法、探測(cè)線圈法、磁場(chǎng)測(cè)定法和磁帶記錄法。

磁粉探測(cè)法所用設(shè)備簡(jiǎn)單，操作方便，檢測(cè)靈敏度較高，適用于各種形狀的鋼鐵機(jī)件，這種探測(cè)法可以發(fā)現(xiàn)鐵磁材料表面和近表面的裂紋，以及氣孔、夾雜等缺陷。其缺點(diǎn)是這種探測(cè)法不能探測(cè)缺陷的深度。

(四)射線探測(cè)法

x射線和y射線，主要用來(lái)探測(cè)機(jī)件內(nèi)部的氣孔、夾渣、鑄造孔洞等立體缺陷，當(dāng)裂紋方向與射線平行時(shí)也能被探測(cè)出來(lái)。穿透力強(qiáng)，能夠探測(cè)很厚的機(jī)件。

優(yōu)點(diǎn)是探測(cè)的圖像較直觀，對(duì)缺陷尺寸和性質(zhì)的判斷比較容易，而且探測(cè)結(jié)果可以記錄下來(lái)作為診斷檔案資料長(zhǎng)期保存。

其缺點(diǎn)是，當(dāng)裂紋面與射線近于垂直時(shí)就難以探測(cè)出來(lái)，對(duì)微小裂紋的探測(cè)靈敏度低，探測(cè)費(fèi)用較高，射線對(duì)人體有害，必須有防護(hù)措施。

(五)超聲波探測(cè)法

可以探測(cè)垂直于超聲波的金屬和非金屬材料的平面狀缺陷?？商綔y(cè)的厚度大、檢測(cè)靈敏度高、儀器輕便便于攜帶、成本低，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測(cè)，并且超聲波對(duì)人體無(wú)害。

其缺點(diǎn)是探測(cè)時(shí)有一定的近場(chǎng)盲區(qū)、探測(cè)結(jié)果不能記錄、探測(cè)中采用的耦合劑易污染產(chǎn)品等。

(六)聲發(fā)射探測(cè)法

1、基本原理

物體在外部條件(如力、熱、電、磁等)作用下會(huì)發(fā)聲，根據(jù)物體的發(fā)聲推斷物體的狀態(tài)或內(nèi)部結(jié)構(gòu)的變化。

2、特點(diǎn)

(1)探測(cè)時(shí)需要對(duì)設(shè)備外加應(yīng)力;

(2)動(dòng)態(tài)檢測(cè)，在加載或運(yùn)行狀態(tài)下進(jìn)行;

(3)裂紋主動(dòng)參與，提供裂紋活動(dòng)的信息;靈敏度高、覆蓋面大、不會(huì)漏檢;

(4)不能反應(yīng)靜態(tài)缺陷情況。

(七)渦流探測(cè)法

1、原理：

機(jī)件中存在損傷時(shí)，被監(jiān)測(cè)機(jī)件表面的渦流將發(fā)生改變，相應(yīng)的渦流磁場(chǎng)也將改變。

2、特點(diǎn)：

(1)適用范圍廣，適用于導(dǎo)電材料表面或近表面探傷;靈敏度高，可自動(dòng)顯示報(bào)警;

(2)非接觸式;

(3)可用于高溫探傷;

(4)可用于顯示、記錄和成像;

(5)深層缺陷難以探測(cè);

(6)影響因素多;

(7)判斷缺陷的種類、形狀、大小比較困難;

(8)存在邊界效應(yīng)。

【例題15•多選題】靜態(tài)檢測(cè)鑄銅件表面的裂紋，可采用( )。(2006)

A.滲透探測(cè)法 B.磁粉探測(cè)法 C.渦流探測(cè)法

D.聲發(fā)射探測(cè)法 E.目視—光學(xué)探測(cè)法

答案：ACE

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