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二級(jí)注冊(cè)計(jì)量師考試專業(yè)實(shí)務(wù)案例分析

配鏡處方這樣看

暑假期間是學(xué)生到醫(yī)院檢查眼睛、驗(yàn)光配鏡的高峰期。由于配鏡處方上專業(yè)術(shù)語較多，很難看懂，因此，有必要加以介紹。

因?yàn)獒t(yī)療機(jī)構(gòu)不同，配鏡處方的格式可能會(huì)有不同，但所包括的項(xiàng)目應(yīng)該是基本相同的，如姓名、性別、年齡、職業(yè)、處方日期等，人們?nèi)菀卓炊@些內(nèi)容。

比較難看懂的項(xiàng)目

OD表示

右眼，OS表示左眼。“+”表示凸透鏡片（遠(yuǎn)視眼用）。“-”表示凹透鏡片（近視眼用）。“+”或“-”之后的阿拉伯?dāng)?shù)值就是鏡片的屈光度。

需要注意的是，配鏡處方上的屈光度和人們平時(shí)所說的眼鏡度數(shù)是不一樣的，它們之間相差100倍。如-1.00D，相當(dāng)于人們平時(shí)所說的100度。

DS表示球鏡（近視和遠(yuǎn)視用），DC表示柱鏡（散光用）。在DS后面有一個(gè)“（）”，表示前面的球鏡聯(lián)合后面的柱鏡。在DC后面有一個(gè)“×”，是將前面的散光度數(shù)和后面的散光鏡軸度（有1~180°）分開。比如-2.00DS（）-1.00DC×60°，表示200度的近視鏡聯(lián)合100度的散光鏡，散光的軸度是60°。2012年注冊(cè)計(jì)量師考試

PD表示雙眼瞳孔間距離。其他符號(hào)包括左右眼裸眼視力、矯正視力等。

光的“捕手”：0.1秒繪光譜

把傳統(tǒng)光譜儀上的一面“鏡子”變成10面，效率提高了6000倍。復(fù)旦大學(xué)研制的“二維CCD陣列探測器”光譜儀只需0.1秒，就能繪制出原來要花10分鐘才能得到的光譜圖。日前出版的國際《激光世界》和《光電子光譜》雜志，對(duì)該儀器進(jìn)行了專題報(bào)道。

光譜儀是用來給光“拍照片”的基礎(chǔ)科學(xué)儀器，能夠?qū)獠ǖ哪芰?、波長、帶寬、線型等重要特征進(jìn)行精細(xì)分析，在遙感、生物醫(yī)學(xué)、國防、光電子功能材料等科研領(lǐng)域和產(chǎn)業(yè)界有著廣泛和重要應(yīng)用。但我國在這一高端科學(xué)儀器領(lǐng)域主要依賴進(jìn)口。

目前，紅外至紫外光譜區(qū)的主流光譜分析儀器是光柵掃描型光譜儀，其中“光柵”是“靈魂部件”，其外表類似鏡面，作用好似“篩子”，能夠?qū)⒉煌ㄩL的光子分揀出來，反射到探測器上，再經(jīng)過數(shù)據(jù)處理，從而實(shí)現(xiàn)光譜的測量和分析。傳統(tǒng)光譜儀通常采用機(jī)械轉(zhuǎn)動(dòng)裝置連續(xù)旋轉(zhuǎn)光柵，光柵每轉(zhuǎn)動(dòng)一次，就“放行”一個(gè)波長的光。由于一束光包括多個(gè)波長，故光柵需要轉(zhuǎn)動(dòng)多次才能讓光全部通過，比較費(fèi)時(shí)?，F(xiàn)在還有一種“一維CCD陣列探測器”光譜儀，雖然無需轉(zhuǎn)動(dòng)光柵便可對(duì)光譜進(jìn)行測量，但每次測量僅能覆蓋的光譜區(qū)范圍有限。要想實(shí)現(xiàn)寬光譜測量，仍需要旋轉(zhuǎn)光柵。

如何同時(shí)實(shí)現(xiàn)寬光譜測量與快速測量？“二維CCD陣列探測器”光譜儀就做到了，秘密在于它獨(dú)特的光柵結(jié)構(gòu)。由復(fù)旦大學(xué)信息科學(xué)與工程學(xué)院院長陳良堯領(lǐng)銜的課題組，經(jīng)過仔細(xì)計(jì)算和試驗(yàn)，將10個(gè)光柵平行“捆綁”起來，成為“集成光柵”，猶如10面“鏡子”各司其職，將不同波長的光子各自分揀出來，同時(shí)反射到探測器上。這位光的“捕手”能從根本上擺脫機(jī)械轉(zhuǎn)動(dòng)，在200至1000納米的全光譜區(qū)獲得高分辨率光譜圖，效率也從原來的10分鐘提高到0.1秒。

該研究成果已獲國家發(fā)明專利。相關(guān)研究成果在國際知名光學(xué)期刊《光學(xué)快報(bào)》上發(fā)表后，受到國際同行高度評(píng)價(jià)，被認(rèn)為是對(duì)光譜學(xué)研究的“原創(chuàng)性重要貢獻(xiàn)”。

專家點(diǎn)評(píng)

上海市計(jì)量測試技術(shù)研究院袁海林教授：二維CCD陣列探測器光譜儀是一項(xiàng)革命性設(shè)計(jì)，通過采用多光柵結(jié)構(gòu)對(duì)成像光譜進(jìn)行高密度折疊，在很寬的光譜區(qū)內(nèi)實(shí)現(xiàn)高分辨率、快速和長時(shí)間可靠測量，將會(huì)成為現(xiàn)代光譜儀設(shè)計(jì)中的一個(gè)主流技術(shù)和發(fā)展趨勢。

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