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五、無(wú)損檢測(cè)(探傷)
無(wú)損檢測(cè)是在不損害或基本不損害材料或構(gòu)件的情況下,采用物理、化學(xué)等方法和手段對(duì)各種工程材料、零部件和結(jié)構(gòu)件進(jìn)行有效的檢驗(yàn)和測(cè)試,借以評(píng)價(jià)它們的完整性、連續(xù)性、安全可靠性及某些物理性能。包括探測(cè)材料或構(gòu)件中是否存在缺陷,并判斷缺陷的形狀、性質(zhì)、大小、位置、取向、分布和內(nèi)含物等情況,還能提供涂層厚度、材料成分、組織狀態(tài)、應(yīng)力分布等信息。
無(wú)損檢測(cè)方法主要包括射線檢測(cè)、聲和超聲檢測(cè)、電學(xué)和電磁檢測(cè)、力學(xué)和光學(xué)檢測(cè)、熱力學(xué)方法和化學(xué)分析方法。在工業(yè)生產(chǎn)、安裝質(zhì)量檢驗(yàn)中,目前應(yīng)用最廣泛的無(wú)損檢測(cè)方法主要是射線探傷,超聲波探傷、滲透探傷、磁粉探傷和渦流探傷。
1.射線探傷(RT)
射線探傷是利用X射線、γ射線和中子射線易于穿透物體,在穿透物體過(guò)程中受到吸收和散射而衰減的性質(zhì),在感光材料上獲得與材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷相對(duì)應(yīng)的黑度不同的圖像,從而檢測(cè)出物體內(nèi)部缺陷的種類、大小、分布狀況,并做出評(píng)價(jià)。
由于射線檢測(cè)對(duì)缺陷形象直觀,對(duì)缺陷的尺寸和性質(zhì)判斷比較容易。如用X射線計(jì)算機(jī)層析 攝影技術(shù)(CT)還可知曉缺陷的斷面情況,便于分析處理;如用底片記錄法則可作為原始資料長(zhǎng)期保存;如用計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)還可使評(píng)定分析自動(dòng)化。此外,射線檢測(cè)對(duì)物體既不破壞也不存在污染,所以射線探傷是現(xiàn)代生產(chǎn)、施工檢驗(yàn)上應(yīng)用非常廣泛的一種無(wú)損探傷技術(shù)。
(1)X射線、γ射線探傷。X射線或γ射線就本質(zhì)而言與可見(jiàn)光相同,都屬于電磁波,只是波長(zhǎng)不同,故性質(zhì)也有差異。γ射線的波長(zhǎng)較X射線短,故其射線更硬,穿透力更強(qiáng)。
1)從X射線發(fā)射管發(fā)出具有強(qiáng)大穿透能力的X射線,照射到需探傷的工件上,工件的背面放有裝在暗匣中的X光軟片。如金屬或焊縫中有氣孔、裂紋、未焊透、夾渣等缺陷,照相底片經(jīng)沖洗后可以看到相應(yīng)部位是一些黑色的條紋或痹點(diǎn);而由于焊縫本身比被焊金屬厚的緣故,故焊縫處在膠片上顯示為白色的條縫,焊縫處缺陷在膠片上形成的黑色條紋或痹點(diǎn)則十分明顯,易于檢測(cè)出來(lái)。通常X射線可檢查出的缺陷尺寸不小于透視工件厚度的1.5%?2.0%(即靈敏度)。
X射線探傷的優(yōu)點(diǎn)是顯示缺陷的靈敏度高,特別是當(dāng)焊縫厚度小于30mm時(shí),較γ射線靈敏度高,其次是照射時(shí)間短、速度快。缺點(diǎn)是設(shè)備復(fù)雜、笨重,成本高,操作麻煩,穿透力較γ射線小。
2)γ射線是由放射性同位素和放射性元素產(chǎn)生的。施工探傷都采用放射性同位素作為射線源。常用的同位素有鈷60、銫137和銥192,探傷厚度分別為200mm、120mm和 100mm。γ射線的特點(diǎn)是設(shè)備輕便靈活,特別是施工現(xiàn)場(chǎng)更為方便,而且投資少,成本低。但其曝光時(shí)間長(zhǎng),靈敏度較低。在石油化工行業(yè)現(xiàn)場(chǎng)施工時(shí)經(jīng)常采用。
(2)中子射線檢測(cè)。中子射線檢測(cè)是通過(guò)物體對(duì)入射中子束強(qiáng)度的衰減而獲得物體內(nèi)部物理完整性兩維圖像的一種無(wú)損檢測(cè)方法。
中子射線檢測(cè)的獨(dú)特優(yōu)點(diǎn)是使檢驗(yàn)封閉在高密度金屬材料中的低密度材料如非金屬材 料成為可能,此方法與X射線法是互為補(bǔ)充的,在某些場(chǎng)合,試件既用X射線又用中子射線做全面的檢測(cè)。中子射線檢測(cè)的缺點(diǎn)是中子源和屏蔽材料大而重,便攜源價(jià)高,所需曝光時(shí)間相當(dāng)長(zhǎng),此X射線法檢測(cè)曝光程序較復(fù)雜,需要解決工作人員的安全防護(hù)問(wèn)題。
2.超聲波探傷(UT)
超聲波是頻率超過(guò)20kHz的機(jī)械振動(dòng)波。超聲波探傷是指使超聲波與試件相互作用, 就反射、透射和散射的波進(jìn)行研究,對(duì)試件進(jìn)行宏觀缺陷檢測(cè)、幾何特性測(cè)量、組織結(jié)構(gòu)和力學(xué)性能變化的檢測(cè)和表征,并進(jìn)而對(duì)其特定應(yīng)用性進(jìn)行評(píng)價(jià)的技術(shù)。
超聲波探傷與X射線探傷相比,具有較高的探傷靈敏度、周期短、成本低、靈活方便、效率高,對(duì)人體無(wú)害等優(yōu)點(diǎn)。缺點(diǎn)是對(duì)工作表面要求平滑、要求富有經(jīng)驗(yàn)的檢驗(yàn)人員才能辨別缺陷種類、對(duì)缺陷沒(méi)有直觀性。超聲波探傷適合于厚度較大的零件檢驗(yàn)。
3.渦流探傷
渦流探傷是利用電磁感應(yīng)原理,檢測(cè)導(dǎo)電構(gòu)件表面和近表面缺陷的一種探傷方法。其原理是用激磁線圈使導(dǎo)電構(gòu)件內(nèi)產(chǎn)生渦電流,借助探測(cè)線圈測(cè)定渦電流的變化量,從而獲得構(gòu)件缺陷的有關(guān)信息。
渦流探傷只能檢查金屬材料和構(gòu)件的表面和近表面缺陷。在檢測(cè)時(shí)并不要求探頭與工件接觸,所以這為實(shí)現(xiàn)高速自動(dòng)化檢測(cè)提供了條件。渦流法可以一次測(cè)量多種參數(shù),如對(duì)管材的渦流檢測(cè),可以檢查缺陷的特征。此外,還可以測(cè)量管材的內(nèi)徑、外徑、壁厚和偏心率等。
渦流探傷的主要優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)速度快,探頭與試件可不直接接觸,無(wú)須耦合劑。主要缺點(diǎn)是只適用于導(dǎo)體,對(duì)形狀復(fù)雜試件難作檢查,只能檢查薄試件或厚試件的表面、近表面缺陷。
4.磁粉探傷(MT)
磁粉探傷是應(yīng)用較早的一種無(wú)損檢測(cè)方法。它具有設(shè)備簡(jiǎn)單、操作方便、速度快、觀 察缺陷直觀和有較高的檢測(cè)靈敏度、費(fèi)用低廉等優(yōu)點(diǎn),在工業(yè)生產(chǎn)中應(yīng)用極為普遍。
磁粉探傷是通過(guò)磁粉在缺陷附近漏磁場(chǎng)中的堆積以檢測(cè)鐵磁性材料表面或近表面處缺 陷的一種無(wú)損探傷方法。
磁粉探傷可以檢測(cè)材料和構(gòu)件的表面和近表面缺陷,對(duì)裂紋、發(fā)紋、折疊、夾層和未 焊透等缺陷極為靈敏??蓹z出的缺陷最小寬度可為約為1μm,幾乎不受試件大小和形狀的限制。局限性是只能用于鐵磁性材料;只能發(fā)現(xiàn)表面和近表面缺陷,可探測(cè)的深度一般在1?2mm;寬而淺的缺陷也難以檢測(cè);檢測(cè)后常需退磁和清洗;試件表面不得有油脂或其他能黏附磁粉的物質(zhì)。
5.滲透探傷(PT)
滲透探傷是檢驗(yàn)非疏孔性金屬和非金屬試件表面上開(kāi)口缺陷的一種無(wú)損檢測(cè)方法。將溶有熒光染料或著色染料的滲透液施加在經(jīng)清洗、干燥的試件表面,滲透劑由于毛細(xì)作用能滲人到各種類型開(kāi)口于表面的細(xì)小缺陷中,然后除去附著在試件表面上多余滲透液,施加顯像劑后,在黑光或白光下用肉眼或借助10倍以下的放大鏡觀察,缺陷處可分別相應(yīng)地發(fā)出黃綠色的熒光或呈現(xiàn)紅色。
滲透檢測(cè)可用于檢驗(yàn)各種類型的裂紋、氣孔、分層、縮孔、疏松、冷隔、折疊及其他開(kāi)口于表面的缺陷;廣泛用于檢驗(yàn)有色金屬和黑色金屬的鑄件、鍛件、粉末冶金件、焊接件以及各種陶瓷、塑料及玻璃制品等。
液體滲透檢驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)是不受被檢試件幾何形狀、尺寸大小、化學(xué)成分和內(nèi)部組織結(jié)構(gòu)的限制,也不受缺陷方位的限制,一次操作可同時(shí)檢驗(yàn)開(kāi)口于表面中所有缺陷;不需要特別昂貴和復(fù)雜的電子設(shè)備和器械;檢驗(yàn)的速度快,操作比較簡(jiǎn)便,大量的零件可以同時(shí)進(jìn)行批量檢驗(yàn),因此大批量的零件可實(shí)現(xiàn)100%的檢驗(yàn);缺陷顯示直觀,檢驗(yàn)靈敏度高。最主要的限制是只能檢出試件開(kāi)口于表面的缺陷,不能顯示缺陷的深度及缺陷內(nèi)部的形狀和 大小。
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